眾所周知,接觸式測頭是三坐標測量時常見的標準配件,而光學(xué)測頭則是影像儀采集工件信息的重要來源。光學(xué)觸頭和接觸式測頭是相互補充的關(guān)系,并不存在巨大的優(yōu)劣之分。
下面,我們從三個方面來分析三坐標接觸式測頭和影像儀光學(xué)測頭
三維光學(xué)測頭分為三種不同的分類:點光源、線光源、面光源。通常根據(jù)不同的應(yīng)用場景選擇不同的測頭,而影像儀光學(xué)測頭的應(yīng)用主要分為表面數(shù)字化和三維測量兩大類,二者依據(jù)生成的是點云還是是三角網(wǎng)格進行區(qū)分。
影像儀光學(xué)測頭具有測量速度快,曲面數(shù)據(jù)易獲取;輕松測量柔軟、易碎、不可接觸、薄件、毛皮、變形細小等工件,無接觸力,不會傷害精密表面。對于一些特殊的零件,光學(xué)測頭的優(yōu)勢占據(jù)上風,能很好彌補了三坐標接觸式測頭在這一類應(yīng)用上的不足。
說完影像儀光學(xué)測頭相較于三坐標接觸式測頭有哪些優(yōu)勢,接下來談?wù)劷佑|式測頭在實際應(yīng)用時的優(yōu)點,接觸式測頭具有測量精度高、可直接測量到工件特定的幾何特征的優(yōu)勢,如一些徑深很小、很細的孔時,光學(xué)測頭的光線無法觸及,但測針的測球部位可以去接觸被測物體進行采點,;另外,一些需要L型測針的場合,接觸式測頭能很快的完成測量任務(wù)。
光學(xué)測量相對接觸式測量而言,測量精度相對不是太高, 對于有陡峭面的工件,難以獲取幾何特征,在測量中會存在測量死角;工件表面與探頭表面不是垂直,測量會存在一定誤差;工件表面的明暗程度會影響測量的精度。
選擇三坐標接觸式測量需要逐點測量,速度慢測量前需做半徑補償,接觸力大小會影響測量值,接觸力會造成工件及探頭表面磨損影響光滑度;傾斜面測量時,不易補償半徑,精度難以保證;測量工件內(nèi)部時,形狀尺寸會影響測量。
三坐標接觸式測頭與影像儀光學(xué)測頭兩者之間更多的是互相補充的關(guān)系,需要用戶在認清自身應(yīng)用場景下選擇正確的測頭。隨著測量技術(shù)的不斷發(fā)展與完善,許多非接觸式測頭也可以測量微觀形貌,并且精度較高,復(fù)合式影像測量儀通過一臺設(shè)備集成光學(xué)測頭、接觸式測頭、激光測頭,一次性測量全部要素,發(fā)展趨勢不容小覷。
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