2021年5月28日,“2021模具加工高端技術(shù)論壇”在西安圓滿落幕。思瑞測量CROMA PLUS亮相本次技術(shù)論壇,因其解決曲面檢測難題的技術(shù)特性成為現(xiàn)場關(guān)注焦點(diǎn),吸引眾多來賓咨詢了解。
此次展示的三坐標(biāo)機(jī)型是CROMA PLUS,搭載??怂箍蹈咝阅芸刂葡到y(tǒng),可以實(shí)現(xiàn)連續(xù)掃描采樣,通過RATIONAL DMIS專業(yè)的BLADE模塊,將掃描得到的樣本按照葉片的需求進(jìn)行專業(yè)的分析。
在以前,復(fù)雜曲面的檢測是個(gè)難題。測點(diǎn)太多,傳統(tǒng)三坐標(biāo)難以測量,容易造成效率低、數(shù)據(jù)不全面的后果。思瑞CROMA PLUS三坐標(biāo)測量儀通過接觸式連續(xù)掃描,數(shù)秒即可完成千個(gè)點(diǎn)位采集,效率提升數(shù)倍,將效率、精度、數(shù)據(jù)的采集及分析都達(dá)到了一個(gè)新的高度。
思瑞全新CROMA PLUS三坐標(biāo)測量儀,因其高效率、高精度的特性廣受市場好評。同時(shí)思瑞測量針對市場需求的變化不斷優(yōu)化三坐標(biāo)測量機(jī)測量方案,助力制造企業(yè)提質(zhì)增效,幫助客戶創(chuàng)造更大的價(jià)值。