葉片是透平機(jī)械轉(zhuǎn)子的重要組成部分，其幾何形狀能和尺寸決定了機(jī)器的氣動性能，加工質(zhì)量也對運(yùn)行安全產(chǎn)生直接影響。因此葉片加工測量十分必要。而隨著加工精度要求的進(jìn)一步提升，傳統(tǒng)的標(biāo)準(zhǔn)樣板測量方法精度與效率都不能滿足需求。

為了幫助廠商提升檢測效率，思瑞推出葉片測量解決方案，CROMA PLUES配合Rational DMIS的測量組合能夠很好地解決問題，效率與精度都有保障。

測量過程

此次需要對一片透平葉片的輪廓度、指定位置厚度等進(jìn)行測量。在葉片的指定位置上提取理論曲線，生成掃描后測座旋轉(zhuǎn)90度，使測尖可以完整掃描到葉片的一般輪廓。另一半輪廓將測針轉(zhuǎn)到未檢測的另一邊即可。完成指定葉片截面測量后，只需將測量完的葉片閉合曲線拖放到葉片節(jié)點(diǎn)，即可完成對所需參數(shù)計算。測量完成后可輸出多種測量報告，報告可以生成葉片的頭端、尾端、壓力面，吸力面輪廓等數(shù)據(jù)。

設(shè)備介紹

CROMA PLUS是思瑞推出的一款專為復(fù)雜曲面檢測設(shè)計的機(jī)型，搭配?？怂箍礨1二合一傳感器，能在數(shù)秒內(nèi)完成百個點(diǎn)位采集，實現(xiàn)高速高精度采樣，被廣泛應(yīng)用于多項復(fù)雜曲面測量任務(wù)。

Rational DMIS搭載的葉片檢測模塊讓測量變得簡易高效。具有界面簡潔，直觀易懂；測量過程快速便捷，效率高；具有多種便捷的測量方法，滿足更多需求。測量完成后可輸出多種測量報告。

穩(wěn)定可靠的三坐標(biāo)機(jī)械結(jié)構(gòu)、性能強(qiáng)大的測量系統(tǒng)讓CROMA PLUS具備精度效率俱佳的測量表現(xiàn)，搭載的Rational DMIS擁有豐富的測量模塊，讓精密測量也能易學(xué)易用。在推動精密測量的道路上，思瑞一直在前行。