針對易變性曲面輪廓度檢測難題,思瑞測量開創(chuàng)性地將高像素CCD光學影像和CWS非接觸式共聚焦白光傳感器整合:由CCD鏡頭負責定位基準和測量長、寬、孔位等平面尺寸,CWS負責測量3D輪廓度、厚度、平面度等空間尺寸。各取所長,火力全開。
創(chuàng)新的CCD光學影像尋邊方式測量工件邊緣,快速準確建立基準,閃測二維尺寸,包括HOME鍵、指紋鍵、攝像頭等孔位、槽直徑、R角位置以及玻璃2D尺寸等要素。
重復測量精度高。建立基準重復性提升至2um,內(nèi)外長寬、孔位重復性提升至2-3um,坐標建立時間縮短至38s。CCD尋邊效率比接觸式探針尋邊,要快3-5倍,提高了檢測效率。
CWS非接觸式共聚焦白光傳感器,采用色階共聚焦白光探頭,可以準確完成空間尺寸數(shù)據(jù)的量測(輪廓度,厚度、平面度、R角尺寸)。
對于曲面材料邊沿較大角度的位置,光譜共焦位移傳感器可以獲得更大可測量區(qū)域。其非接觸采點方式,測量全程不產(chǎn)生碰觸,無需擔心任何外力影響下的接觸變形。
通過自動旋轉(zhuǎn)測座,靈活的實現(xiàn)3D玻璃的各位置的非接觸式掃描。且具有連續(xù)掃描功能,無需逼近回退,最高達到1000點/秒,減少了測頭回退時間和感應時間,比傳統(tǒng)測量方式快3倍左右,遠比想象更強大。
并且,CWS系統(tǒng)解決了長久以來工件表面要求反光和透明材質(zhì)的這一痛點,可輕松應對敏感、柔軟、色散、反射、傾斜、彎曲或者低對比度的表面反光材質(zhì)或透明材質(zhì)的光學難點測量。
RATIONAL DMIS軟件系統(tǒng),擁有智能過濾功能,消除雜點,保證測量數(shù)據(jù)的穩(wěn)定和一致性。多樣化的測量報告、spc數(shù)據(jù)統(tǒng)計、工藝改進提供支持等功能只需要輕松點擊鼠標即可實現(xiàn)。分析報告,直觀清晰。適用于產(chǎn)品分析,特殊位置展示等。
易變形曲面掃描檢測方案精度高,也非常適用于石墨模具測量。石墨模具不能有劃痕,對其表面光滑度要求很高,這種非接觸式的檢測設備正好滿足需求。
除此之外,它還可以檢測其它易變形產(chǎn)品:3D玻璃、2.5D玻璃、不規(guī)則彎曲玻璃等。塑膠、橡膠立體產(chǎn)品(接觸變形大、精度要求較高)。
思瑞測量GLASS三坐標測量機是一款非接觸式光學掃描三坐標測量機,采用了全自動三坐標測量機橋式機構(gòu)架及掃描技術,輕松完成復雜零件高精度測量與數(shù)據(jù)采集,滿足多樣測量需求。
思瑞測量是全球?qū)I(yè)的計量解決方案制造商,產(chǎn)品涵蓋三坐標、三坐標測量機、三坐標測量儀、三坐標測量、三次元、光學測量、三坐標升級、三坐標測量服務、及逆向工程等領域,全方位解決復雜測量難題!